VIS~NIR~ SWIR高光譜顯微鏡
VIS~NIR~ SWIR高光譜顯微鏡
IMA是高光譜顯微鏡，提供可見光、近紅外和短波紅外范圍(400 nm - 1620 nm)的光譜和空間信息。該系統可快速檢測光致發光、電致發光、熒光、反射和透射率。基于高性能、全范圍的成像濾波器，IMA比標準逐點或線掃描系統更快、更高效。
IMA是高光譜顯微鏡，提供可見光、近紅外和短波紅外范圍(400 nm - 1620 nm)的光譜和空間信息。該系統可快速檢測光致發光、電致發光、熒光、反射和透射率。基于高性能、全范圍的成像濾波器，IMA比標準逐點或線掃描系統更快、更高效。
▏產品詳情
VIS~NIR~ SWIR高光譜顯微鏡
IMA是高光譜顯微鏡，提供可見光、近紅外和短波紅外范圍(400 nm - 1620 nm)的光譜和空間信息。該系統可快速檢測光致發光、電致發光、熒光、反射和透射率。基于高性能、全范圍的成像濾波器，IMA比標準逐點或線掃描系統更快、更高效。
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技術指標 |
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產品型號 |
VIS~NIR |
NIR~SWIR |
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光譜范圍 |
400-1000 nm |
900-1620 nm |
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光譜分辨率(FWHM) |
＜2 nm |
＜4nm |
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光譜調整 |
連續可調 |
連續可調 |
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空間分辨率 |
亞微米-受顯微鏡物鏡NA的限制 |
亞微米-受顯微鏡物鏡NA的限制 |
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相機 |
CCD, EMCCD, SCMOS |
Photon etc，InGaAs相機(ZephIR™1.7或Alizé™1.7)
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激發波長 (可升級至3波長) |
405, 447, 532, 561, 660, 730, 785, 808 nm (其他波長可根據要求提供) |
405, 447, 532, 561, 660, 730, 785, 808 nm (其他波長可根據要求提供) |
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顯微鏡 |
直立或倒置，科學等級 |
直立或倒置，科學等級 |
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光源，光路 |
汞燈\鹵素燈，透射\反射 |
汞燈\鹵素燈，透射\反射 |
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測試選擇模塊 |
熒光模塊\暗場模塊 (油浸或空氣) |
熒光模塊\暗場模塊 (油浸或空氣) |
IMA應用
復雜材料分析，如太陽能電池特性和半導體質量控制。
研究復雜環境下的紅外標記物，包括活細胞和組織。
檢索暗場圖像，獲得透明和未染色樣本的對比，如聚合物，晶體或活細胞。
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